DPS
Drejtoria e Përgjithshme e Standardizimit
Tel/Cel: +355 4 222 62 55
E-mail: info@dps.gov.al
Adresa: Rr.: "Reshit Collaku", (pranë ILDKPKI, kati VI), Kutia Postare 98, Tiranë - Shqipëri
Main menu

SSH ISO 16700:2016

Analiza e mikrorrezes - Mikroskopi elektronik skanues - Udhëzime për kalibrimin e zmadhimit të imazhit

Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Guidelines for calibrating image magnification
30 tet 2023

General information

60.60     31 tet 2023

95.99   

DPS

DPS/KT 302

International Standard

37.020  

anglisht  

Buying

Publikuar

Language in which you want to receive the document.

Scope

ISO 16700:2016 specifikon një metodë për kalibrimin e zmadhimit të imazheve të krijuara nga një mikroskop elektronik skanues (SEM) duke përdorur një material të përshtatshëm referimi. Kjo metodë është e kufizuar në zmadhimet e përcaktuara nga diapazoni i madhësisë së disponueshme të strukturave në materialin referues kalibrues. Nuk zbatohet për matjen e dedikuar të dimensionit kritik SEM

Life cycle

PREVIOUSLY

Replaces
SSH ISO 16700:2004

NOW

PUBLISHED
SSH ISO 16700:2016
60.60 Standard published
31 tet 2023

Related project

Adopted from ISO 16700:2016

Preview

Only informative sections of projects are publicly available. To view the full content, you will need to members of the committee. If you are a member, please log in to your account by clicking on the "Log in" button.

Login