DS IEC TR 63133:2017 ED1:2021

Pajisje gjysmëpërçuese - Skanimi bazuar në vlerësimin e nivelit të vjetrimit për pajisjet gjysmëpërçuese

Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices

Publication date: 23 qer 2022

General information

Current stage: 60.60 Effective date: 23 qer 2022

Next stage: 95.99

Originator: DPS

Owner: DPS/KT 7

Type: Technical Report

ICS: 31.080.01

Gjuha: anglisht

Buying

Statusi: Publikuar

PDF - 3 094 Lekë

Paper - 3 094 Lekë

CD - 3 094 Lekë

PDF and Paper - 6 188 Lekë

Language

Language in which you want to receive the document.

Scope

IEC TR 63133: 2017 (E) specifikon një teknikë projektimi të elementit të ruajtjes së vlerësimit të performancës, i cili mund të monitorojë plakjen e gjysmëpërçuesit dhe të karakterizojë nivelin e plakjes. Niveli i vlerësuar i plakjes mund të përdoret për të përmirësuar besueshmërinë e sistemit.

Life cycle

NOW

PUBLISHED
DS IEC TR 63133:2017 ED1:2021
60.60 Standard published
23 qer 2022

Related project

Adopted from IEC TR 63133:2017 ED1

Preview

Only informative sections of projects are publicly available. To view the full content, you will need to members of the committee. If you are a member, please log in to your account by clicking on the "Log in" button.