Pajisje gjysmëpërçuese - Metodat e provës mekanike dhe klimatike - Pjesa 41: Metodat e testimit standard të besueshmërisë të pajisjes me kujtesë të paqëndrueshme
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
IEC 60749-41: 2020 specifikon kërkesat procedurale për kryerjen e provave të vlefshme të qëndrueshmërisë, mbajtjes dhe temperaturës së kryqëzuar bazuar në një specifikim të kualifikimit. Specifikimet e kualifikimit të qëndrueshmërisë dhe mbajtjes (për numërimin e cikleve, kohëzgjatjet, temperaturat dhe madhësitë e mostrave) specifikohen në JESD47 ose janë zhvilluar duke përdorur metoda të bazuara në njohuri të tilla si në JESD94.
Life cycle
NOW
PUBLISHED SSH EN IEC 60749-41:2020 60.60
Standard published 26 pri 2021
English