Ky dokument specifikon karakteristikat e projektimit dhe metrologjike të instrumenteve të interferometrisë me skanim koherence (CSI) për matjen sipërfaqësore të topografisë sipërfaqësore. Meqenëse profilet e sipërfaqes mund të nxirren nga të dhënat e topografisë sipërfaqësore, metodat e përshkruara në këtë dokument janë të zbatueshme edhe për matjet e profilizimit.
WITHDRAWN
SSH EN ISO 25178-604:2013
IN_DEVELOPMENT
prSSH EN ISO 25178-604:2025
40.60
Close of voting
11 maj 2026