Pajisje gjysëmpërçuese - Metoda të provave mekanike dhe klimatike - Pjesa 5: Prova e jetëgjatësisë në ndikimin e temperaturës dhe lagështirës në gjendje të qëndrueshme
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
IEC 60749-5:2017(E) jep një provë të jetëgjatësisë nën ndikimin të temperaturës dhe lagështirës në gjendje të qëndrueshme me qëllim vlerësimin e sigurisë së pajisjeve në gjendje solide të paketuara johermetikisht në ambiente me lagështi.
Ky botim i dytë anullon dhe zëvendëson botimin e parë të 2003. Ky botim konsiston në një rishikim teknik. Ky botim përfshin ndryshimet teknike kryesore të mëposhtëme në krahasim me botimin e mëparshëm:
a) korrigjimi I një gabimi në një ekuacion;
b) Përfshirja e shënimeve për udhëzim;
c) Sqarimi I aplikueshmërisë së kushteve të proves;
English