SSH IEC 60749-5:2023

Pajisje gjysmëpërçuese - Metodat e provës mekanike dhe klimatike - Pjesa 5:Prova e jetëgjatësisë në temperaturë dhe lagështi konstante nën stresin elektrik

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Scope

IEC 60749-5:2023 ofron një Provë jetëgjatësie në temperaturë dhe lagështi në gjendje të qëndrueshme për të vlerësuar besueshmërinë e pajisjeve gjysmëpërçuese të paketuara johermetike në mjedise me lagështi. Kjo metodë prove konsiderohet shkatërruese. Ky botim përfshin ndryshimet e mëposhtme të rëndësishme teknike në lidhje me botimin e mëparshëm:
a) Specifikimi i pajisjes së provës është ndryshuar për të kërkuar nevojën për të minimizuar gradientët e lagështisë relative dhe për të maksimizuar rrjedhën e ajrit ndërmjet pajisjeve gjysmëpërçuese në provë;
b) Specifikimi i instalimeve të pajisjeve të testimit është ndryshuar për të kërkuar shmangien e kondensimit në pajisjet në provë dhe në pajisjet elektrike që lidhin pajisjet me pajisjet e testimit;
c) zëvendësimi i referencave për "kryqëzim virtual" me "die".