Publikuar
Jep metodologjinë për analizën e teknologjisë dhe dështimit në prodhimin e qarqeve të integruara. Analiza e teknologjisë përdoret për të përcaktuar mënyrën se si është ndërtuar një komponent duke e vëzhguar atë duke përdorur rezolucionin adekuat, i cili rritet në mënyrë progresive me nivelin e analizës.
PUBLISHED
DS IEC TS 61945:2000 ED1
60.60
Standard published
29 tet 2021
Only informative sections of projects are publicly available. To view the full content, you will need to members of the committee. If you are a member, please log in to your account by clicking on the "Log in" button.