SSH IEC 60748-20-1:1994

Pajisje gjysëmpërçuese - Qarqet e integruara - Pjesa 20: Specifikim i përgjithshëm për qarqet e integruara me shtresa dhe qarqet hibride me shtresa të integruara - Seksioni 1: Kërkesat për kontrollin vizual të brendshëm

Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits - Section 1: Requirements for internal visual examination

Scope

Qëllimi i këtyre ekzaminimeve është të kontrollojnë materialet strukturën e brendshme dhe mjeshtrinë e qarqeve të integruara me shtresa dhe hibride (F dhe HFICs). Këto ekzaminime do të përdoren normalisht para ndërhyrjes në system ose mbylljes hermetike për të zbuluar dhe eleminuar F dhe HFICs me defektet e brendshme që mund të çojnë në dështim të pajisjes në zbatim normal. Kriteret e tjera të pranueshme mund të bihet dakord dakort me blerësit ose furnizuesit, respektivisht