SSH EN 62374-1:2010/AC:2011
Pajisje gjysëmpërçuese - Pjesa 1: Prova e shpimit të dielektrikut në varësi të kohës (TDDB) për shtresat metalike të jashtëme
Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers
5 dhj 2011
General information
60.60
5 dhj 2011
DPS
DPS/KT 7
European Norm
31.080
anglisht
Scope
Life cycle
NOW
PUBLISHED
SSH EN 62374-1:2010/AC:2011
60.60
Standard published
5 dhj 2011
Related project
Adopted from
EN 62374-1:2010/AC:2011