Publikuar
This document specifies spectroscopic ellipsometry for the determination of optical properties (refractive index n and extinction coefficient k) and the optical classification of different types of amorphous carbon films within the n-k plane.
It is applicable to amorphous carbon films deposited by ionized evaporation, sputtering, arc deposition, plasma-assisted chemical vapour deposition, hot filament techniques and others.
It does not apply to carbon films modified with metals or silicon, amorphous carbon films that have a gradient of composition/property in the thickness, paints and varnishes.
PUBLISHED
ISO 23216:2021
90.20
Standard under periodical review
15 pri 2026
Shtresa të holla me bazë karboni - Përcaktimi i vetive optike të shtresave të holla amorfe të karbonit me anë të elipsometrisë spektroskopike (ISO 23216:2021)
60.60 Standard published
Vetëm seksionet informative të projekteve janë në dispozicion të publikut. Për të parë përmbajtjen e plotë, do t'ju duhet të krijoni një llogari. Nëse jeni anëtar, ju lutemi hyni në llogarinë tuaj duke klikuar në butonin "Identifikohu".
English