DS IEC TR 63357:2022 ED1

Pajisjet gjysmëpërçuese - Udhërrëfyesi i standardizimit të metodës së testimit të defekteve për automjetet automobilistike

Semiconductor devices - Standardization roadmap of fault test method for automotive vehicles

Scope

IEC TR 63357:2022(E) përshkruan udhërrëfyesin e standardizimit të metodave të testimit të defekteve për qarqet e integruara të përdorura në automjetet automobilistike. Meqenëse automjetet e automobilave ekspozohen në mjedise të vështira si temperatura shumë e ulët ose e lartë, dridhjet, sinjalet me frekuencë të lartë etj. Prandaj, ato testohen për defekte të mundshme që mund të shkaktohen nga mjedisi i ashpër. Ekzistojnë disa metoda të provës së gabimeve dhe çështje të lidhura me to për t'u standardizuar.
Pajisjet gjysmëpërçuese të përdorura në automjetet automobilistike ekspozohen në mjedise të ashpra me temperaturë shumë të lartë ose shumë të ulët, dridhje, sinjale me frekuencë të lartë, etj. Prandaj, ato testohen për defekte të mundshme që mund të shkaktohen nga mjedisi i ashpër. sigurojnë qëndrueshmëri të pajisjes gjysmëpërçuese.