DPS
Drejtoria e Përgjithshme e Standardizimit
Tel/Cel: +355 4 222 62 55
E-mail: info@dps.gov.al
Adresa: Rr.: "Reshit Collaku", (pranë ILDKPKI, kati VI), Kutia Postare 98, Tiranë - Shqipëri
Main menu

SSH ISO 29301:2017

Analiza e mikrorrezes - Mikroskopi analitike elektronike - Metodat për kalibrimin e zmadhimit të imazhit duke përdorur materiale referuese me struktura periodike

Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Methods for calibrating image magnification by using reference materials with periodic structures
30 tet 2023

General information

60.60     31 tet 2023

95.99   

DPS

DPS/KT 302

International Standard

37.020  

anglisht  

Buying

Publikuar

Language in which you want to receive the document.

Scope

ISO 29301:2017 specifikon një procedurë kalibrimi të zbatueshme për imazhet e regjistruara në një gamë të gjerë zmadhimi në një mikroskop elektronik transmetues (TEM). Materialet e referencës të përdorura për kalibrim kanë një strukturë periodike, të tilla si një kopje e grilës difraksioni, një strukturë gjysmëpërçuese super-rrjete ose një kristal analizues për analizën me rreze X dhe një imazh rrjetë kristalore prej karboni, ari ose silikoni. Ky dokument është i zbatueshëm për zmadhimin e imazhit TEM të regjistruar në një film fotografik ose një pllakë imazherie ose të zbuluar nga një sensor imazhi i integruar në një aparat fotografik dixhital. Ky dokument gjithashtu i referohet kalibrimit të shiritit të shkallës. Ky dokument nuk zbatohet për matjen e dedikuar të dimensionit kritik TEM (CD-TEM) dhe mikroskopin elektronik të transmetimit skanues (STEM).

Life cycle

NOW

PUBLISHED
SSH ISO 29301:2017
60.60 Standard published
31 tet 2023

Related project

Adopted from ISO 29301:2017

Preview

Only informative sections of projects are publicly available. To view the full content, you will need to members of the committee. If you are a member, please log in to your account by clicking on the "Log in" button.

Login