DS IEC TR 61967-4-1:2005 ED1

Qarqe të integruara - Matja e emetimeve elektromagnetike, 150 kHz deri në 1 GHz - Pjesa 4-1: Matja e emetimeve të kryera - Metoda e lidhjes direkte 1 Ω/150 Ω - Udhëzimet e aplikimit për IEC 61967-4

Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 4-1: Measurement of conducted emissions - 1 Ω/150 Ω direct coupling method - Application guidance to IEC 61967-4

Scope

Shërben si një udhëzues aplikimi dhe lidhet me IEC 61967-4. Ndarja e llojeve të IC në -> modulet e funksionit IC dhe modulet e softuerit për -> bërthamat me CPU mund të përdoren për Pjesët 3, 5 dhe 6 të IEC 61967. Jep këshilla për kryerjen e metodave të provës të përshkruara në IEC 61967-4 duke klasifikuar llojet i qarqeve të integruara (IC) dhe ofrimi i sugjerimeve për aplikimet e testimit në lidhje me klasifikimin e tipit IC. Për të marrë rezultate të krahasueshme të matjeve të emetimit të IC duke përdorur IEC 61967-4, jepen përkufizime të cilat janë si shtesë e kushteve të përgjithshme të specifikuara në IEC 61967-1 dhe IEC 61967-4. Këto përkufizime kanë të bëjnë me mënyrat e funksionimit të lidhura me IC, kunjat dhe portat që do të testohen, konfigurimet e testimit sipas IEC 61967-4, duke përfshirë përshkrimin e qarqeve të ngarkesës dhe shtegun RF, dhe kufijtë e emetimit të lidhur me IC (ose klasat kufitare). Pjesë të udhëzimeve të dhëna nga ky raport teknik mund të zbatohen për pjesë të tjera të IEC 61967.