Publikuar
Ky dokument specifikon një metodë në terren për vlerësimin e densitetit sipërfaqësor të kripërave të ndryshme të tretshme në ujë në sipërfaqet e çelikut, para dhe/ose pas përgatitjes së sipërfaqes, me përcaktim konduktometrik. Dendësia individuale e sipërfaqes së përbërjes së kripës si kloruret, sulfatet, natriumi, etj, nuk mund të përcaktohen me këtë metodë. Kjo metodë vlerëson vetëm ndotësit që formojnë një elektrolit (jone) kur janë në kontakt me ujin. Këto përfaqësojnë pjesën më të madhe të ndotësve.
WITHDRAWN
SSH EN ISO 8502-9:2000
PUBLISHED
SSH EN ISO 8502-9:2020
60.60
Standard published
23 qer 2022