SSH IEC 63287-1:2021 ED1

Pajisje gjysmëpërçuese - Udhëzime të përgjithshme të kualifikimit të gjysmëpërçuesve - Pjesa 1: Udhëzime për kualifikimin e besueshmërisë së IC

Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification

Scope

IEC 63287-1: 2021 jep udhëzime për planet e kualifikimit të besueshmërisë së produkteve të qarkut të integruar gjysmëpërçues. Ky dokument nuk është menduar për aplikime të lidhura me ushtrinë dhe hapësirën. SHËNIM 1 Prodhuesi mund të përdorë madhësi fleksibël të mostrave për të reduktuar koston dhe për të ruajtur besueshmërinë e arsyeshme nga ky udhëzues përshtatja e bazuar në EDR-4708, AEC Q100, JESD47 ose dokument tjetër përkatës mund të zbatohet gjithashtu nëse specifikohet. SHËNIM 2 Metoda e shpërndarjes Weibull e përdorur në këtë dokument është një nga disa metoda për të llogaritur madhësinë e duhur të mostrës dhe kushtet e testimit të një projekti të caktuar besueshmërie. Ky botim i parë i IEC 63287-1 anulon dhe zëvendëson botimin e parë të IEC 60749-43 të botuar në 2017. Ky botim përbën një rishikim teknik. Ky botim përfshin këto ndryshime të rëndësishme teknike në lidhje me botimin e mëparshëm: dokumenti është riemërtuar dhe rinumëruar për ta dalluar atë nga IEC 60749 (të gjitha pjesët); është shtuar një seksion i ri në lidhje me konceptin "familje" me rinumërimin e duhur të tekstit ekzistues.