Publikuar
IEC 60747-18-1:2019 (E) specifikon metodat e provës dhe analizat e të dhënave për semsorët e matricës fotografike CMOS pa lente. Ky document përfshin kushtet e provës për secilin process, configurimin e matricës së sensorëve fotografik CMOS pa lente, analizat statistike të të dhënabve të provës, kalibrimi për planimetrine dhe linearitetin , dhe raportet e provës
PUBLISHED
SSH IEC 60747-18-1:2019
60.60
Standard published
15 gush 2019