SSH IEC 60749-6:2017

Pajisje gjysëmpërçuese - Metoda të provave mekanike dhe klimatike - Pjesa 6: Ruajtja në temperaturë të lartë

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature

Scope

IEC 60749-6:2017(E) është për proven dhe përcaktimin e efektit mbi të gjithë pajisjet elektronike në gjëndje të ngurtë për ruajtjen në temperature të ngritur pa tension elektrik të aplikuar. Kjo prove është përdorur tipikisht për të përcaktuar efektet e kohës dhe temperatures, nën kushte ruajtjeje, për metodat e dështimit të aktivizuar termikisht dhe koha për dështim të pajisjeve elektronike në gjëndje të ngurtë, duke përfshirë pajisjet me memorje jo avulluese (mekanizmat e dështimit të dhëna- ruajtje). Kjo prove konsiderohet jo destructive por duhet të përdoret më mire për kualifikimin e pajisjes. Nëse pajisje të tilla përdoren për shpërndarje, efektet e kësaj prove së tensionit të lartë intensive do të jetë e nevojshme të vlerësohen. Mekanizmat e dështimit të aktivizuar termikisht janë modeluar të përdorin ekuacionin Arrhenius për intensivitetin dhe udhëzimi për përzgjedhjen e temperaturave të prvës dhe zgjatjen do të gjenden në IEC 60749-43.
Ky botim përfshin ndryshimet teknike kryesore të mëposhtëme në krahasim me botimin e mëparshëm:
a) Kushte shtesë të proves;
b) Sqarimi i aplikueshmërisë së kushteve të proves;