SSH EN 60749-44:2016

Pajisje gjysëmpërçuese - Metodat e provës mekanike dhe klimatike - Pjesa 44: Metodë prove për efektet e një ngjarjeje të izoluar (SEE) të rrezatimit të një tufe rrezesh neutron për pajisjet gjysmëpërçuese

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices

Scope

IEC 60749-44:2016 krijon një procedurë për matjen e efekteve të një ngjarje të izoluar (SEE) mbi pajisjet gjysmëpërçuese me qark të integruar me densitet të lartë duke përfshirë kapacitetin mbajtës të të dhënave të pajisjeve gjysmëpërçuese me memorjen kur i nënshtrohen rrezatimit me neutron atmosferik të prodhuar nga rrezet kozmike. Ndjeshmëria ndaj efekteve të një ngjarjeje të vetme matet kur pajisja rrezatohet me një tufë rrezesh neutron me një fluks të njohur. Kjo metodë prove mund të aplikohet për ndonjë tip të qarkut të integruar. Shënim 1 – Pajijset gjysmëpërçuese nën tension të lartë mund ti nënshtrohen efekteve të një ngjarjeje të izoluar duke përfshirë SEB, djegjes si një ngajrje e izoluar dhe këputjes së portës si një ngjarje e izoluar , SEGR , për këtë rast i cili nuk mbulohet nga ky standard, referoju IEC 62396-4. Shënim 2 – Në shtesë për neutronet e energjisë së lartë disa pajisje mund të kenë një hkallë gabimi të ulët në sajë të neutroneve termale të energjisë së ulët (<1 eV) . për këtë rast i cili nuk mbulohet nga ky standard referoju IEC 62396-5.