SSH IEC 60749-1:2002/COR1:2003
Korrigjim 1 - Pajisjet gjysëmpërçuese - Metodat e provës mekanike dhe klimatike - Pjesa 1: Të përgjithshme
Corrigendum 1 - Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1: General
25 nën 2011
General information
60.60
25 nën 2011
DPS
DPS/KT 7
International Standard
31.080.01
anglisht
Scope
Modification of the validity date: now put at 2007.
Life cycle
NOW
PUBLISHED
SSH IEC 60749-1:2002/COR1:2003
60.60
Standard published
25 nën 2011
Related project
Adopted from
IEC 60749-1 Ed. 1.0 b Cor.1