Describes a method to measure the immunity of integrated circuits (IC) in the presence of conducted RF disturbances, e.g. resulting from radiated RF disturbances. This method guarantees a high degree of repeatability and correlation of immunity measurements. This standard establishes a common base for the evaluation of semiconductor devices used in equipment functioning in an environment subject to unwanted radio frequency electromagnetic waves.
Directives related to this standards.
Direktiva 2004/108/EC e Parlamentit Europian dhe e Këshillit e 15 dhjetor 2004 për përafrimin e ligjeve të Shteteve Anëtare në lidhje me përputhshmërinë elektromagnetike dhe shfuqizimin e Direktivës 89/336/EEC
Direktiva e BE 2014/30 e Parlamentit Evropian dhe e Këshillit e datës 26 Shkurt 2014 mbi harmonizimin e ligjeve të Shteteve Anëtare në lidhje me përputhshmërinë elektromagnetike (riformulim)
PUBLISHED
SSH EN 62132-4:2006
60.60
Standard published
1 jan 2008
English