SSH ISO 20263:2017

Analiza e mikrorrezes - Mikroskopi analitike elektronike - Metoda për përcaktimin e pozicionit të ndërfaqes në imazhin e prerjes tërthore të materialeve të shtresuara

Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials

Scope

ISO 20263:2017 specifikon një procedurë për përcaktimin e pozicionit mesatar të ndërfaqes midis dy materialeve të ndryshme me shtresa të regjistruara në imazhin e seksionit tërthor të materialeve me shumë shtresa. Nuk synohet të përcaktohet ndërfaqja e simuluar e materialeve me shumë shtresa të pritshme përmes metodës së simulimit me shumë feta (MSS). Ky dokument është i zbatueshëm për imazhet e seksioneve tërthore të materialeve me shumë shtresa të regjistruara duke përdorur një mikroskop elektronik transmetues (TEM) ose një mikroskop elektronik transmetimi skanues (STEM) dhe imazhet e hartës elementare të seksionit kryq duke përdorur një shpërndarje energjie X- spektrometri i rrezeve (EDS) ose një spektrometër i humbjes së energjisë së elektroneve (EELS). Ky dokument është gjithashtu i zbatueshëm për imazhin e dixhitalizuar të regjistruar në një sensor imazhi të integruar në një aparat fotografik dixhital, një memorie dixhitale të vendosur në PC ose një pllakë imazherie dhe imazhin e dixhitalizuar të konvertuar nga një imazh analog i regjistruar në filmin fotografik nga një skaner imazhi.