SSH ISO 22489:2016

Analiza e mikrorrezes - Mikroanaliza e sondës elektronike - Analiza sasiore e pikës për ekzemplarët në masë duke përdorur spektroskopinë me rreze X dispersive me gjatësi vale

Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength dispersive X-ray spectroscopy

Scope

ISO 22489:2016 specifikon kërkesat për përcaktimin sasior të elementeve në një vëllim me madhësi mikrometër të një kampioni të identifikuar nëpërmjet analizës së rrezeve X të gjeneruara nga një rreze elektronike duke përdorur një spektrometër shpërndarës me gjatësi vale (WDS) të vendosur ose në një mikroanalizues të sondës elektronike ose në një mikroskop elektronik skanues (SEM). ISO 22489:2016 përshkruan edhe sa vijon: - parimi i analizës sasiore; - mbulimin e përgjithshëm të kësaj teknike përsa i përket elementeve, fraksioneve masive dhe ekzemplarëve referues; - kërkesat e përgjithshme për instrumentin; - procedurat themelore të përfshira si përgatitja e mostrës, përzgjedhja e kushteve eksperimentale, matjet, analiza e tyre dhe raporti. ISO 22489:2016 është menduar për analizën sasiore të një kampioni të sheshtë dhe homogjen me shumicë duke përdorur një rreze me incidencë normale. Ai nuk specifikon kërkesat e detajuara as për instrumentet, as për softuerin e reduktimit të të dhënave. Operatorët duhet të marrin informacion të tillë si kushtet e instalimit, procedurat e detajuara për funksionimin dhe specifikimet e instrumentit nga prodhuesit e çdo produkti të përdorur.